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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)

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華測(cè)鐵電分析儀-行業(yè)專(zhuān)用儀器

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華測(cè)鐵電分析儀-行業(yè)專(zhuān)用儀器內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括工控計(jì)算機(jī)主板、CPU（i3或以上）、RAM（8G或以上）、固態(tài)硬盤(pán)（250G或以上）、網(wǎng)卡、USB接口、VGA接口、預(yù)裝Windows7操作系統(tǒng)、功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試軟件等。
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HCDJC電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

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可測(cè)電氣絕緣材料的耐電弧試驗(yàn)儀

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耐電弧試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器

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耐電弧試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器輸出與測(cè)量規(guī)格，保障測(cè)度的器質(zhì)，適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓下耐電弧行的測(cè)試，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
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HCLD-3漏電起痕試驗(yàn)儀

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華測(cè)儀器-低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造的試驗(yàn)儀器。適用于固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測(cè)定，具有簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。
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HCDH-4耐電弧試驗(yàn)系統(tǒng)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-01-02

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CDH-4耐電弧試驗(yàn)系統(tǒng)測(cè)試儀器統(tǒng)電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效性。
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HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀/電氣絕緣材料測(cè)試

更新時(shí)間：2025-01-02

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耐電弧試驗(yàn)儀/電氣絕緣材料測(cè)試是專(zhuān)門(mén)為電氣絕緣材料測(cè)試而開(kāi)發(fā)的高精密設(shè)備，絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力，通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示，單位是秒。為在板狀試樣上加上兩個(gè)分開(kāi)一定距離的鎢電極，視需要以工頻高壓小電流在兩極間產(chǎn)生電弧。
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HCDH-300低壓漏電起痕測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-08-26

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低壓漏電起痕測(cè)試儀器（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) （CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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